本报讯（融媒体中心 李啸）近日，国家新能源汽车技术创新中心（以下简称“国创中心”）作为主要起草单位牵头编制的《汽车芯片整车环境测试数据采集要求》与《汽车芯片整车环境测试参数统计及评价方法》团体标准正式发布，进一步提升汽车芯片整车环境测试的规范化水平，助力国产芯片上车应用。

　　其中，《汽车芯片整车环境测试数据采集要求》规定了汽车芯片整车环境测试数据采集工作需遵循的核心原则、规范流程、设备要求、核心采集内容以及数据表示方法等关键内容，为测试工作提供了清晰、统一的操作指引。“获取芯片搭载整车的测试数据能准确反映芯片在实际应用中性能和状态的波动情况。”国创中心有关负责人表示，该标准的发布将进一步规范汽车芯片整车环境测试数据采集领域的行业行为，提升测试工作的规范化水平。

　　《汽车芯片整车环境测试参数统计及评价方法》则首次提出了汽车芯片整车环境测试参数稳定性和一致性的定义，并规定了测试参数的准备、计算和评价。据悉，对汽车芯片整车环境测试参数统计分析可反映出芯片关键参数在实际整车环境使用过程中的变化情况，并可以根据不同芯片的样本极差、标准差、正态分布最大值、变异系数、峰度系数评价等数据进行比较和评价，表征芯片的稳定性和一致性，为汽车芯片的性能评估建立了清晰、可量化的技术框架，可以协助用户进行芯片选型，助力新型芯片尤其是国产芯片的上车应用。

　　两项团体标准的编制基于国创中心在汽车芯片测试认证方面的技术积累与深厚经验。聚焦汽车芯片，国创中心已构建起“6+2”的业务架构，坚持“标准研究+测试评价+产品认证+车规管理+设备工具+司法鉴定”六位一体融合发展，打造“车规芯片应用验证体系+车规芯片质量管理体系”两大技术服务体系，累计获得20家整车及Tier1企业认可或联合实验室资质，并与国际认证机构开展联合认证合作。依托国家市场监督管理总局重点实验室（车规芯片测试与评价）、中国汽车芯片产业创新战略联盟，国创中心可为芯片企业和汽车企业提供一站式车规芯片测试、认证、质量管控服务。

　　国创中心有关负责人表示：“下一步，国创中心将联合产业链各方伙伴，持续跟踪汽车芯片技术的发展趋势与产业需求，推动标准在实际生产与测试中落地见效，为我国汽车芯片的创新发展提供坚实的技术支撑。”